Alpha300S扫描近场显微镜

n产品简介：

  传统光学显微镜的空间分辨率受限于光学衍射极限，最高分辨率为波长的一半λ/2。扫描近场光学显微镜 (SNOM或NSOM) 则可以突破衍射极限，实现了60-100nm的超高光学空间分辨率。近场光学技术应用领域非常广，无需特殊样品制备。

WITec公司的 alpha300 S近场光学显微镜采用硅基中空悬臂式近场探针，轻松实现超衍射极限的光学成像。在近场光学图像采集的过程中，可同时获得样品的AFM表面形貌，实现近场光学信息与样品形貌的相关分析。WITec近场光学系统采用成熟稳定的AFM激光偏转反馈系统同来控制探针与样品之间的距离。与荧光技术联用，近场光学系统可实现单分子检测。

n技术特色：

- 突破衍射极限的空间光学分辨率:可实现60-100nm超高光学分辨率。

- 独家专利的SNOM悬臂探针技术

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                    [A] SNOM探针和样品的光学图像(俯视图)

                    [B] 探针侧视图

                    [C] SNOM探针的SEM图像

                    [D] SNOM探针尖端的小孔SEM图像

                    [E] 批量生产的SNOM探针

- 操作简单：alpha300 S系统采用软件可控的快速自动进针及调节等自动测试流程，操作非常简便、直观。

- 工作模式多：配备透射、反射及荧光等多种光学模式。 

- 由于近场光学信号极其微弱，配备高灵敏单光子计数的光电倍增管或雪崩二极管，并同时提供检测器快速超载保护。

- 在空气与液体中均可使用

- 非破坏性、无需标记的超高分辨成像技术，基本不需要样品制备

- 集成三种技术到一台仪器上：共聚焦拉曼显微镜、AFM 和SNOM 

n测试实例：