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表面颗粒度检测系统

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品牌：Fastmicro

型号：FM-PS-SAS-V01

产地：荷兰

关键字：颗粒度检测、表面清洁度检测、表面颗粒度检测

n产品简介

荷兰Fastmicro FM-PS-SAS-V01型表面颗粒度检测系统，采用采样器在待测样品表面取样，间接测量样品表面颗粒污染水平。采样器从待测样品表面收集颗粒（90%的表面颗粒都会被收集），且不会留下任何残留物。样品测试在几秒钟内即可完成，客户能够在一分钟内完成整个工作流程。

主要用于半导体设备制造商及芯片制造商评价设备及零部件的清洁度，判断设备是否会引入颗粒污染，进而判断设备是否可以用于芯片生产，如果表面有颗粒污染，需要进行清洁才能正常运行。同时该设备可用于监测超净间的洁净水平。

n原理简介

采用专利技术米氏散射原理检测表面微观颗粒，光源发出的平行光照射待测表面，遇到表面的突起颗粒发生米氏散射，摄像头传感器以一定角度接收到散射信号，根据散射信号可获取关于待测表面颗粒尺寸信息。

n技术参数

速度	225mm2内秒级成像；整个流程1分钟内完成（取样+测试）；
数据输出	颗粒数量；颗粒位置；颗粒尺寸；带有粒子标记的图像；可导出KLARF和Excel文件；数据通过USB或以太网输出；
易于操作	操作简单；
检测范围	最小可检测500nm大小PSL颗粒；
重复性	更换采样器后, 90%的颗粒被统计，PSL颗粒大于500nm；
测量精度	＜20%（测试PSI颗粒）
无损，无交叉污染	取样器不会引人新的污染，测量过程属于非接触无损测量
对取样器和样品处理的要求	需要使用经过认证的取样器以及支架；采样器的污染水平要比客户样品的污染水平低10倍；洁净室ISO7，等级10000或更高；可选配粒子沉降模块，用于监测粒子沉降，判断超净间的洁净程度
产品尺寸（长Í宽Í高）	615mm300mm460mm

n典型客户

ASML, LAM,Applied Material, Nikon, CANON, TEL,ASM, Mattson, Besi等国际知名公司。

n应用案例

创建时间：2023-06-12 17:01

产品中心