半自动晶圆扩膜机
品牌:Powatec
型号:SFE
产地:瑞士
关键字:晶圆扩膜机、扩膜机、半自动扩膜机
型号:SFE
产地:瑞士
关键字:晶圆扩膜机、扩膜机、半自动扩膜机
半自动扩膜机 SFE 200 & 300 被开发用于将“隐形激光晶圆”扩展到 300 毫米晶圆尺寸。由于薄膜的膨胀,从芯片到芯片的可见间距可以达到约 50 微米。
使用 SFE 200 和 SEF 300,8" 晶圆和 300mm 晶圆可以在不需要大框架的情况下进行隔离和扩展。这样可以节省薄膜,是一个很大的优势。该工艺已获得专利。
晶圆均匀扩展的条件是晶圆上所有切割线的分割 SEF 200 和 SEF 300 配备了一个吹气筒,可以分离最大 2mm x 2mm 的芯片。
网站关键词:临时键合机 湿法系统 湿法台 湿法台 金属减薄机 晶圆贴片机 晶圆贴膜机 金属研磨机 微米划痕仪 CMP抛光机 纳米划痕仪 晶圆厚度测量系统 晶圆厚度测量系统 晶圆厚度测量系统 晶圆厚度测量系统 拉曼显微镜 三维表面形貌仪 扫描超声显微镜 化学机械抛光机 CMP后清洗机 CMP后清洗机 CMP后清洗机 棱镜耦合仪 棱镜耦合仪 超声显微镜 CMP抛光机 化学机械抛光机 晶圆扩膜机 晶圆扩膜机 晶圆扩膜机 晶圆扩膜机 临时键合机 晶圆贴片机 晶圆贴片机 晶圆贴片机
创建时间:2021-09-28 10:30
-
三维表面形貌仪
-
微纳米力学测试系统
-
摩擦磨损试验机
-
Mountains分析软件
-
平面磨床/金属研磨机
-
SIC外径研磨机/晶圆减薄机
-
CMP化学机械抛光/后清洗机
-
晶圆厚度/三维形貌/膜厚测量系统
-
表面颗粒度检测系统
-
晶圆AOI系统
-
晶圆电阻率/方块电阻测量仪
-
纳米压印系统
-
光栅尺寸无损检测仪
-
磁控溅射/热蒸发/电子束镀膜系统
-
LPCVD/PECVD
-
干法刻蚀
-
等离子灰化去胶系统
-
晶圆匀胶机/喷胶机
-
晶圆烤胶系统(热板)
-
湿法(显影刻蚀清洗)系统
-
临时键合机/解键合机
-
晶圆贴片机/贴膜/解胶机
-
原子力显微镜
-
共聚焦拉曼显微镜
-
棱镜耦合仪
-
快速退火炉/真空高温炉
-
光刻胶边缘分析
-
划片机
-
接触角测量仪